場發射掃描電鏡SEM檢測

更新時間₪╃·✘│： 2021-03-11
產品型號₪╃·✘│：
簡單描述
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM系列•▩，具有出色的解析度•▩，能夠輕鬆實現亞奈米分辨成像以及高探測效率•▩，適用於包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析↟✘•│。無論是在高真空還是在可變真空壓力模式下•▩，更高的表面細節資訊靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性•▩，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰│✘、真實的影象↟✘•│。場發射掃描電鏡SEM檢測

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詳細介紹

發射掃描電鏡SEM相關檢測

專案	細則	收費	說明
僅形貌觀察	每個樣品*20min•▩，超出時間將按照每20min一個樣計算；樣限取5張照片/樣	/	/
僅元素分析測試	EDS元素分析/分佈包括₪╃·✘│：點分析（限3點）；線分析；面分析	/	/
形貌觀察和元素分析	SEM每個樣品限取5張照片； EDS元素分析/分佈包括；點分析（限3點）；線分析；面分析；	/	/
EBSD	/	/	制樣收費面議
STEM	/	/	/
冷臺│✘、熱臺│✘、WetSTEM原位觀察	需要設計試驗方案•▩，價格面議↟✘•│。	/	/
鍍金	鍍層為Au 5nm	/	/
鍍鉑	鍍層為Pt 5nm	/	/

發射掃描電鏡SEM相關檢測

蔡司場發射掃描電子顯微鏡Sigma系列•▩，採用蔡司Gemini鏡筒•▩，具有高品質的成像和優質的分析能力•▩，可選配備多種探測器•▩，以滿足顆粒物│✘、奈米結構│✘、薄膜樣品等各種不同的應用需求↟✘•│。EDS幾何設計可實現高效能的元素分析•▩，無論哪種樣品適用範圍廣•▩，且均可獲得準確且可重複的分析結果↟✘•│。

[ 產品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的影象2. 智慧高效的工作流程3. 高效能的分析系統4. 可擴充套件拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設計-提升光學效能的同時•▩，降低靜電場與磁場對樣品的影響

日立掃描電鏡

該分析用掃描電子顯微鏡適合用於研究大件•▩，較重•▩，較高的樣品↟✘•│。

▲樣品直徑達300mm↟✘•│。▲可觀察範圍直徑達203mm↟✘•│。▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析↟✘•│。▲通用型接口布局滿足各種分析用途↟✘•│。

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上一個₪╃·✘│： Fluorocube系列熒光光譜儀
下一個₪╃·✘│：環境控制原子力顯微鏡檢測

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