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D8 X射線衍射儀 布魯克代理商

  • 更新時間↟·₪│·:  2022-10-19
  • 產品型號↟·₪│·:  
  • 簡單描述
  • 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,採用創造性的達芬奇設計,透過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析▩•、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光✘▩₪。
詳細介紹

布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀

布魯克D8達芬奇X射線衍射儀

型號:D8 Advance

產地:德國

 

 

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,採用創造性的達芬奇設計,透過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析▩•、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光✘▩₪。透過革命性的TWIST TUBE技術,使使用者可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析▩•、薄膜的GID▩•、XRR)到點光源應用(織構▩•、應力▩•、微區)的切換,讓煩人的光路互換▩•、重新對光等問題從此成為歷史!

     

高精度的測角儀可以保證在全譜範圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答覆提高裝置的使用效率, 而且大幅提高了裝置的探測靈敏度✘▩₪。

 

技術指標:                                          

Theta/theta 立式測角儀                              

2Theta角度範圍:-110~168°

角度精度:0.0001度                    

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管                  

探測器:林克斯陣列探測器▩•、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg     

                                        

應用

物相定性分析

結晶度及非晶相含量分析

結構精修及解析

物相定量分析

點陣引數精確測量

無標樣定量分析

微觀應變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘餘應力

低角度介孔材料測量

織構及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射

 

 

 

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