1） 6KW高強度Cu轉靶光源2） 垂直q/qATLAS測角儀Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二維探測器4） 液氦低溫系統PheniX cryostat↟│☁₪↟：12K~300K5） 液氮低溫系統↟│☁₪↟：MTC-LOWTEMP液氮溫度到450度6） 環境加熱高溫↟│☁₪↟：MTC-FURNACE室溫-1100度；X射線衍射儀高分辨透射及PDF散射系統檢測

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化·•₪·，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化·•₪·，這對探討實際電池安全性產生的原因之一·•₪·，即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段； 科研支撐◕☁▩、變溫物相分析◕☁▩、變溫過程中的晶粒尺寸◕☁▩、晶型◕☁▩、晶胞引數及動力學分析；分析◕☁▩、電池充放電物相分析◕☁▩、原位電化學反應物相分析✘↟✘。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化·•₪·，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產生的相應的結構變化·•₪·，這對探討實際電池安全性產生的原因之一·•₪·，即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段；科研支撐◕☁▩、變溫物相分析◕☁▩、變溫過程中的晶粒尺寸◕☁▩、晶型◕☁▩、晶胞引數及動力學分析；電池充放電物相分析◕☁▩、原位電化學反應物相分析✘↟✘。原位X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀·•₪·，採用創造性的達芬奇設計·•₪·，透過TWIN-TWIN光路設計·•₪·，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析◕☁▩、薄膜反射率XRR分析的全自動切換·•₪·，而無需對光✘↟✘。透過TWIST TUBE技術·•₪·，使使用者可以進行雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測✘↟✘。

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀·•₪·，採用創造性的達芬奇設計·•₪·，透過TWIN-TWIN光路設計·•₪·，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析◕☁▩、薄膜反射率XRR分析的全自動切換·•₪·，而無需對光✘↟✘。透過TWIST TUBE技術·•₪·，使使用者可以進行多晶X射線衍射儀檢測✘↟✘。

德國弗萊貝格儀器的XRD-OEM（線上X射線衍射儀--X射線單晶定向儀）·•₪·，主要用於對晶體的定向以及切口/平面形狀和位置的測量·•₪·，其可以直接整合到研磨或鋸切裝置中使用·•₪·，將測量過程整合到工業生產中·•₪·，解決了由於加工裝置和定向測量過程分開而造成的定向誤差等行業難題✘↟✘。

德國弗萊貝格儀器Quatrz XRD（石英晶體X射線衍射儀--石英棒定向儀）主要應用於對石英棒◕☁▩、矽片和坯料進行生產質量控制✘↟✘。而根據樣品物件的不同·•₪·，Quatrz XRD可以分為Quatrz Bar XRD◕☁▩、Quatrz Wafer XRD和Quatrz Blank XRD·•₪·，即全自動石英棒定向儀◕☁▩、全自動石英晶圓盤分析儀和全自動石英晶片分選儀三種型號✘↟✘。

德國弗萊貝格DDCOM（臺式X射線晶體定向儀--單晶X射線衍射儀）主要應用於單晶的*晶格取向的確定·•₪·，主要採用Omega掃描方法對樣品進行超高速晶體定位測量·•₪·，可以測定立方晶體的任意位置取向·•₪·，該裝置配置了氣冷式X射線管·•₪·，操作過程無需水冷·•₪·，適用於科學研究及生產質量控制✘↟✘。

德國弗萊貝格DDCOM（用於晶體定向測量的桌面型X射線衍射儀）主要應用於單晶的*晶格取向的確定·•₪·，其採用Omega掃描方法對樣品進行超高速晶體定位測量·•₪·，可以測定立方晶體的任意位置取向·•₪·，該裝置配置了氣冷式X射線管·•₪·，操作過程無需水冷·•₪·，適用於科學研究及生產質量控制✘↟✘。