高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的

　　高分辨X射線顯微鏡是X射線成像術的一種↟↟✘✘，也是顯微成像技術↟↟✘✘，即將微觀的▩◕☁▩↟、肉眼無法分辨看出的結構▩◕☁▩↟、圖形放大成像以便觀察研究的器械▩◕↟✘▩。X 射線成像的襯度原理▩◕☁▩↟、裝置的構造與主要組成部件( 如X射線源▩◕☁▩↟、探測器等)↟↟✘✘，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像▩◕☁▩↟、機械製品的缺陷探傷▩◕☁▩↟、機場車站的安全檢查等) 出發的▩◕↟✘▩。宏觀成像與微觀成像有相通之處↟↟✘✘，如襯度原理▩◕☁▩↟、裝置的主要組成部件等↟↟✘✘，但也有區別▩◕↟✘▩。
 

　　高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的↟↟✘✘，遵從幾何光學原理↟↟✘✘，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件↟↟✘✘，在光學顯微鏡中為透鏡▩◕↟✘▩。由於X 射線的波長很短↟↟✘✘，在玻璃和一般物質介面上的折射率均接近1↟↟✘✘，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡↟↟✘✘，一般用波帶片▩◕↟✘▩。
 

　　此外↟↟✘✘，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像↟↟✘✘，同樣要求有強光源及像探測器▩◕↟✘▩。對光學顯微鏡↟↟✘✘，一般用肉眼觀察↟↟✘✘，故常加一目鏡起進一步放大的作用▩◕↟✘▩。在高分辨X射線顯微鏡中當然不能用眼晴直接觀察↟↟✘✘，可用CCD 等面探測器探測▩◕↟✘▩。顯微鏡的重要效能指標兩者是相似的↟↟✘✘，有放大倍數▩◕☁▩↟、分辨力▩◕☁▩↟、像差等幾個▩◕↟✘▩。X射線顯微鏡的一般構造:從強光源來的光束先經聚焦元件( 在此為毛細管透鏡聚焦) 使光斑尺寸變小▩◕☁▩↟、亮度加大↟↟✘✘，然後射到樣品上↟↟✘✘，透過樣品的光↟↟✘✘，再經成像放大元件( 在此為波帶片) 而到達探測器( 在此為閃爍體加CCD)▩◕↟✘▩。成像波帶片和探測器之間有一個Au 位相補償環↟↟✘✘，在相襯成像時用▩◕↟✘▩。如吸收襯度成像↟↟✘✘，可移走▩◕↟✘▩。